Profilm3D 3D表面形狀測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量示例

Profilm3D 3D表面形狀測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量示例

測(cè)量示例

粗糙度測(cè)量

測(cè)量硅襯底上的粗糙度。可以測(cè)量符合 ISO 的線粗糙度 (R) 和表面粗糙度 (S)。

不均勻形狀的測(cè)量

測(cè)量銅基板上納米級(jí)的不均勻性。可以一次測(cè)量1平方毫米區(qū)域內(nèi)納米級(jí)的不均勻形狀。

鏡片形狀

測(cè)量鏡片的形狀。您可以高精度地觀察所表達(dá)的形狀。

步進(jìn)測(cè)量

測(cè)量雙焦鏡片的水平差。

它是一個(gè)使用白光干涉技術(shù)的系統(tǒng)，可以非接觸測(cè)量包括臺(tái)階和粗糙度在內(nèi)的三維形狀。

Profilm 3D 適用于測(cè)量小樣本，涵蓋了測(cè)量 3D 形狀所需的所有功能，并且比傳統(tǒng)產(chǎn)品更緊湊、更便宜。
多種測(cè)量模式，包括垂直掃描干涉法 (WLI)，適合微米級(jí)臺(tái)階和形狀的高精度測(cè)量，相移干涉法 (PSI)，適合測(cè)量納米級(jí)形狀和粗糙度。包括標(biāo)準(zhǔn)步驟樣品在內(nèi)的一切都是標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備，包括用于放大物鏡、自動(dòng)載物臺(tái)以及便于操作和分析和管理測(cè)量數(shù)據(jù)的軟件。

主要特點(diǎn)

低價(jià)！
在配備所有必要功能的同時(shí)實(shí)現(xiàn)低價(jià)
納米量級(jí)
的高分辨率采用相移干涉法實(shí)現(xiàn)高分辨率
全標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
XY自動(dòng)載物臺(tái)、手動(dòng)左輪、自動(dòng)光強(qiáng)調(diào)節(jié)、自動(dòng)對(duì)焦功能
緊湊型外殼
主體占地面積為 30 x 30 厘米的緊湊型設(shè)計(jì)。
配備 WLI 和 PSI 兩種測(cè)量模式
一個(gè)裝置同時(shí)測(cè)量步距測(cè)量和粗糙度測(cè)量
操作
簡(jiǎn)單基本操作只需簡(jiǎn)單的鼠標(biāo)操作
根據(jù) ISO 測(cè)量粗糙度符合
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn) ISO25178
擴(kuò)展
性多種物鏡選擇、數(shù)據(jù)拼接功能

主要用途

半導(dǎo)體	晶圓凸塊、CMP焊盤(pán)等
醫(yī)療領(lǐng)域	注射針、人工關(guān)節(jié)、支架等
安裝板	銅線、凸塊、透鏡等